2021年8月29日から9月4日まで開催された第34回URSI（国際電波科学連合）総会及び科学シンポジウムにおいて、当研究所電磁波標準研究センター電磁環境研究室の Liu Sen 研究員が Young Scientist Award を受賞した。

5Gよりも高い周波数帯で鋭いビームを用いて通信を行うことが想定されているB5G（Beyond 5G）及び6Gにおいて、低コストで柔軟にビームを形成できる「スマートサーフェス」が主要技術の一つとして注目されている。スマートサーフェスとは、多数のダイオードやMEMS（Micro Electro Mechanical Systems）スイッチ等を用いて動的に反射板上の素子の特性や素子間結合等を制御することにより所望の反射特性を実現する技術である。スマートサーフェスにより形成されたビームに対するばく露評価では、多数の制御パラメータ条件の組み合わせに対してそれぞれ数値計算を行わなくてはならないことから、計算の高速化が課題となっていた。

本発表は、スマートサーフェスに関する電波ばく露レベル計算法として2種類の近似法を提案。計算機資源及び計算精度の観点から比較を行い、計算精度はほぼ変わらないながらも計算時間を8割以上削減できることを示したものであり、今後B5G及び6G基地局の電波防護評価への活用が期待される。

発表題目：

Incident Power Density Assessment of Smart Surfaces for Exposure Compliance

受賞者：

Liu Sen

共著者：

大西 輝夫、多氣 昌生、渡辺 聡一